通信用光電子器件恒定濕熱試驗(yàn)
試驗(yàn)范圍
1、有源器件:有源器件包括光源、光檢測(cè)器和光放大器,這些器件是光發(fā)射機(jī)、光接收機(jī)和光中繼器的關(guān)鍵器件,和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無(wú)源器件:光無(wú)源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。
通信用光電子器件恒定濕熱試驗(yàn)
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 18310.19-2002 纖維光學(xué)互連器件和無(wú)源器件 基本試驗(yàn)和測(cè)量程序 第2-19部分:試驗(yàn) 恒定濕熱
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的恒定濕熱試驗(yàn)服務(wù)。
通信用光電子器件恒定濕熱試驗(yàn)
試驗(yàn)背景
濕熱環(huán)境普遍存在于電子產(chǎn)品的運(yùn)輸、貯存、使用整個(gè)壽命周期內(nèi),在濕熱環(huán)境的影響下,電子產(chǎn)品中的絕緣材料和金屬會(huì)吸附水蒸氣,導(dǎo)致產(chǎn)品的退化現(xiàn)象出現(xiàn)。同時(shí),在潮濕、溫度和電應(yīng)力的共同作用下,會(huì)引起電化學(xué)反應(yīng)和金屬腐蝕,導(dǎo)致電子設(shè)備的絕緣電阻下降、漏電增加,嚴(yán)重時(shí)出現(xiàn)飛弧、擊穿的電路損壞等現(xiàn)象。
通信用光電子器件恒定濕熱試驗(yàn)的目的是測(cè)定光電子器件承受高溫和高濕的能力,以及高溫和高濕對(duì)器件的影響程度,保證光電子器件的長(zhǎng)期可靠性。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的恒定濕熱試驗(yàn)服務(wù)。
通信用光電子器件恒定濕熱試驗(yàn)
試驗(yàn)方法
按以下程序進(jìn)行試驗(yàn):
a)試驗(yàn)前對(duì)試樣的主要光電特性進(jìn)行測(cè)試;
b)將試樣放進(jìn)試驗(yàn)箱內(nèi),其擺放位置不應(yīng)妨礙試樣四周空氣的流動(dòng);
c)試樣在規(guī)定條件下連續(xù)完成規(guī)定的試驗(yàn)時(shí)間。