試樣各部分都應達到試驗箱（室）溫度3K以內才開始試驗。對于散熱型試樣，在溫度穩(wěn)定的試驗箱（室）內試樣的溫度變化在每小時不超過1K時作為開始（或終止）暴露周期的時間，試樣溫度達到穩(wěn)定的最后1h作為暴露周期的最初1 h。
包括：沖擊與高溫綜合試驗、碰撞與高溫綜合試驗、沖擊與低溫綜合試驗、碰撞與低溫綜合試驗、自由跌落與高溫綜合試驗、自由跌落與低溫綜合試驗

光學和光子學儀器沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗目的是研究試樣的光學、熱學、力學、化學和電學性能受到沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫影響變化的程度。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種光學和光子學儀器的環(huán)境試驗能力，為光學和光子學儀器產品提供專業(yè)的沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗等綜合環(huán)境試驗服務。

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GB/T 12085.1-2022 光學和光子學 環(huán)境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
ISO 9022-13光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 12085.13-2010 光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗
DIN ISO 9022-13光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗
BS ISO 9022-13光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗
GB/T 2423.43 電工電子產品 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 振動、沖擊和類似動力學試驗樣品的安裝
GB/T 12085.1光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第1部分：術語、試驗范圍
GB/T12085.2光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第2部分：低溫、高溫、濕熱
GB/T 12085.3光學和光學儀器 環(huán)境試驗方法 第3部分：機械作用力
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗A:低溫

所有光學和光子學儀器包括來自其他領域附屬組件（如機械、化學和電子設備）