電工電子產(chǎn)品高溫試驗
健明迪檢測提供的電工電子產(chǎn)品高溫試驗，試驗標(biāo)準(zhǔn) GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫 IEC60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2-2部分，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
試驗標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫
IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2-2部分：試驗 試驗B：干熱
GB/T 2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分：總則
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
GB/T 2424.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導(dǎo)則
GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認(rèn)
IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2-2部分：試驗 試驗B：干熱
GB/T 2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分：總則
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化
GB/T 2424.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高溫低溫試驗導(dǎo)則
GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認(rèn)
試驗背景
高溫條件下，產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。電子電工產(chǎn)品高溫試驗是確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。高溫試驗分為散熱樣品的高溫試驗（溫度漸變）和非散熱試驗樣品的高溫試驗（溫度漸變）。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸樯岷头巧犭姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的高溫試驗服務(wù)。
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電工電子產(chǎn)品高溫試驗機構(gòu)
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗?zāi)芰Γ瑸樯岷头巧犭姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的高溫試驗服務(wù)。
試驗方法
1、試驗Bb：非散熱試驗樣品溫度漸變的高溫試驗
本試驗方法用來進(jìn)行非散熱試驗樣品的高溫試驗，試驗樣品在高溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
2、試驗B：散熱試驗祥品溫度漸變的高溫試驗一試驗樣品在升溫調(diào)節(jié)期不通電
本試驗方法用來進(jìn)行散熱試驗樣品的高溫試驗，試驗樣品在高溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
3、試驗Be：散熱試驗樣品溫度漸變的高溫試驗一試驗樣品在整個試驗過程通電
本試驗方法用來進(jìn)行散熱試驗樣品的高溫試驗，試驗樣品在高溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定，并且要求試驗樣品在整個試驗過程中通電。
本試驗方法用來進(jìn)行非散熱試驗樣品的高溫試驗，試驗樣品在高溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
2、試驗B：散熱試驗祥品溫度漸變的高溫試驗一試驗樣品在升溫調(diào)節(jié)期不通電
本試驗方法用來進(jìn)行散熱試驗樣品的高溫試驗，試驗樣品在高溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
3、試驗Be：散熱試驗樣品溫度漸變的高溫試驗一試驗樣品在整個試驗過程通電
本試驗方法用來進(jìn)行散熱試驗樣品的高溫試驗，試驗樣品在高溫條件下放置足夠長時間以達(dá)到溫度穩(wěn)定，并且要求試驗樣品在整個試驗過程中通電。
